ANALISIS KANDUNGAN SENYAWA BAHAN BERBAHAYA PADA KOMPONEN PLASTIK DAN METAL PRODUK ELEKTRONIK SESUAI ATURAN RESTRICTION OF HAZARDOUS SUBSTANCES (ROHS) 2025
Keywords:
GC-MS,, RoHS,, Spektrofotometer UV-Vis,, XRFAbstract
Peraturan Pembatasan Zat Berbahaya diperkenalkan oleh Uni Eropa pada tahun 2006 untuk mengurangi limbah elektronik dan dampak negatifnya terhadap kesehatan dan lingkungan. Penelitian ini bertujuan untuk menganalisis kandungan zat berbahaya seperti Cd, Pb, Hg, Br, dan Cr6+ pada sampel plastik dan metal komponen elektronik PT. Panasonic Manufacturing Indonesia (PMI) sesuai dengan peraturan RoHS. Metode yang digunakan antara lain analisis X-Ray Fluoresensi untuk penentuan konsentrasi unsur, Kromatografi Gas-Spektrometri Massa untuk mendeteksi senyawa bromin, dan spektrofotometri UV-Vis untuk mengukur kandungan kromium heksavalen. Hasil pengujian menunjukkan bahwa seluruh sampel memenuhi peraturan RoHS, dengan konsentrasi zat berbahaya tidak melebihi batas yang ditentukan. Meskipun beberapa sampel mengandung senyawa brom, konsentrasinya masih di bawah ambang batas. Kandungan kromium pada sampel logam tidak berupa Cr6+, dan sampel tersebut dinyatakan memenuhi standar RoHS dan layak digunakan. PT. PMI juga menerapkan batas maksimum yang lebih ketat dibandingkan peraturan RoHS untuk memastikan kualitas produk yang optimal.